試驗(yàn)過(guò)程：
(a) 將樣件放入-30℃的低溫試驗(yàn)箱內(nèi)，監(jiān)測(cè)樣件各測(cè)量點(diǎn)的溫度與低溫試驗(yàn)箱環(huán)境溫度是否相等；
(b) 打開(kāi)電加熱控制儀。以一分鐘為一循環(huán)，脈沖周期為%95加熱%5停止。電源電壓為28V±0.5V，直到各點(diǎn)溫度全部為-5℃以上停止加熱；
(c) 重復(fù)上述試驗(yàn)，做凍融循環(huán)10次
限值：
(a) 不帶加熱接頭的樣件加熱的熱量為173KJ或加熱30min時(shí)樣件各測(cè)量點(diǎn)的溫度應(yīng)≥-5℃；
(b) 帶加熱接頭的樣件加熱的熱量為173KJ或加熱20min時(shí)樣件各測(cè)量點(diǎn)的溫度應(yīng)≥-5℃；
(c) 試樣應(yīng)無(wú)明顯破壞的跡象（例如鼓包、開(kāi)裂、龜裂，紐結(jié)等）；
(d) 對(duì)每個(gè)試樣進(jìn)行室溫爆破試驗(yàn)，應(yīng)能滿足5.2.2.4條的要求。（爆破試驗(yàn)的必要長(zhǎng)度應(yīng)包括損傷區(qū)域）。
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